| Allgemeine Angaben: | | Ort der Dateien | Dateien sind intern im Dokumentenserver abgelegt | | Größe | 3,82 MB in einer Datei | | ZIP-Datei: | Gepackte Version als ZIP-Archiv herunterladen | | Eingebracht am | 09.02.2007 18:38:54 | | Zuletzt geändert am | 09.02.2007 18:38:54 | | Dokument: | Growth and Characterization of thin Al2O3 and Ga2O3 Films on Single-Crystalline Ni, Co, and CoGa Substrates | | Hauptdatei | |
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