Dokument: Untersuchung von Oberflächeninhomogenitäten im
System Ti/TiO2 mittels in- und ex-situ SPM-Methoden

Titel:	Untersuchung von Oberflächeninhomogenitäten im System Ti/TiO2 mittels in- und ex-situ SPM-Methoden
URL für Lesezeichen:	https://docserv.uni-duesseldorf.de/servlets/DocumentServlet?id=2265
URN (NBN):	urn:nbn:de:hbz:061-20030210-000265-3
Kollektion:	Dissertationen
Sprache:	Deutsch
Dokumententyp:	Wissenschaftliche Abschlussarbeiten » Dissertation
Medientyp:	Text
Autor:	Voigt, Oliver [Autor]
Dateien:	[Dateien anzeigen] Adobe PDF [Details] 10,24 MB in einer Datei [ZIP-Datei erzeugen] Dateien vom 09.02.2007 / geändert 09.02.2007
Beitragende:	Prof. Dr. Schultze, Joachim Walter [Gutachter] Prof. Dr. Staikov, Georgi [Gutachter]
Stichwörter:	Titan, AFM, kristallographische Orientierung, Rauhigkeit,Elastizität, KorngrenzeTitanium, AFM, crystallographic orientiation, roughness, elasticity,grain boundary
Dewey Dezimal-Klassifikation:	500 Naturwissenschaften und Mathematik » 540 Chemie
Beschreibung:	Mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterkraftmodulation wurden technische, d.h. polykristalline, oxidbedeckte Titanoberflächen hinsichtlich ihrer Topographie und ihren mechanischen Eigenschaften charakterisiert. Einwesentlicher Aspekt war die Korrelation dieser Eigenschaften mit der kristallographischen Orientierung der einzelnen Körner und mit anderen elektrochemischen, orientierungsabhängigen Größen. Es wurde eine Orientierungsabhängigkeit der Rauhigkeit, sowie der Elastizität der Oxidschicht gefunden. Für 0001 orientierte Körner wurde eine höhere Rauhigkeit und ab 4V Oxidationspotential eine härtere Oxidschicht verglichen mit senkrecht dazu orientierten Körnern (xxx0) gefunden. In Abhängigkeit von der Differenz des Eulerwinkels wurden für geringe Unterschiede (15-30°) grabenförmige Korngrenzen gefunden, deren typische Breite 100nm beträgt bei einer Tiefe von ca. 10nm. Für größere Unterschiede der kristallographischen Orientierung finden sich flankenförmige Korngrenzen mit einer Flankensteilheit von ca. 10°. Höhe und Breite dieser Korngrenzen werden durch den von der Probenpräparation verursachten Höhenunterschied zwischen den Körnern verursacht. Ebenfalls von der Probenpräparation abhängig ist der maximale Unterschied des Eulerwinkels, bei dem grabenförmige Korngrenzen nachgewiesen werden konnten.
Lizenz:	Urheberrechtsschutz
Fachbereich / Einrichtung:	Mathematisch- Naturwissenschaftliche Fakultät » WE Chemie
Dokument erstellt am:	10.02.2003
Dateien geändert am:	12.02.2007
Promotionsantrag am:	10.02.2003
Datum der Promotion:	10.02.2003